東莞銘普光磁股份有限公司(以下簡稱“公司”或“銘普光磁”)公告稱：公司于近日取得一項中華人民共和國國家知識產(chǎn)權(quán)局頒發(fā)的“光功率監(jiān)測方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)”發(fā)明專利證書。 ??具體情況如下： ??證書號：第 4301694 號 ??發(fā)明名稱：光功率監(jiān)測方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì) ??專利號： ZL 2019 1 1403766.3 ??專利類型：發(fā)明專利 ??專利申請日：2019 年 12 月 30 日 ??專利權(quán)人：東莞銘普光磁股份有限公司 ??授權(quán)公告日：2021 年 03 月 16 日 ??專利權(quán)期限：20 年(自申請日起算) ??本申請公開一種光功率監(jiān)測方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)，其中，光功率監(jiān)測方法包括：獲取待監(jiān)測光模塊的校準參數(shù);根據(jù)所述校準參數(shù)計算得所述待監(jiān)測光模塊的第一光功率偏差;根據(jù)所述校準參數(shù)、第一光功率偏差計算得到所述待監(jiān)測光模塊的參考光功率;根據(jù)所述參考光功率、所述校準參數(shù)、所述第一光功率偏差計算得到所述待監(jiān)測光模塊的當前光功率。本申請能夠?qū)崿F(xiàn)對光模塊的光功率監(jiān)測的同時，還具有占用光模塊運行資源少、成本低等優(yōu)點。